原子力顯微鏡
管理人員: 陳信文
位置: 關鍵中心大樓 三樓 R CO-3E
聯絡方式:
qws5718340@gate.sinica.edu.tw
儀器功能簡介
韓國Park AFM NX10原子力顯微鏡，其獨家專利的延伸探針模組和預先安裝的探針，無需繁瑣複雜的雷射對準，即可快速進入量測，對使用者相當友善。Park獨家調校的機台設計配備自動下針系統，探針可在10秒內自動完成下針，並透過機台內部電子元件反覆確認高度，達到作業高度後即可開始量測材料表面形貌。機台提供一般接觸模式和非接觸模式（non-contact mode）的掃描模式。原子力顯微鏡在探索二維材料方面扮演著關鍵角色，能對材料厚度和層數提供重要的初步理解，有助於後續實驗的安排與發展。
廠牌/型號：Park Systems / NX10
服務內容
本系統提供高精度樣品表面結構分析，支援一般接觸模式、非接觸模式量測模式，可量測樣品最大尺寸為2吋。
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儀器名稱 Instrument Name |
自行操作 Self-Operation |
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原子力顯微鏡 Atomic Force Microscope (AFM) |
2400 TWD/HR 一般探針:2000 TWD/EACH 2400 TWD/HR Standard probe: 2000 TWD/EACH |