高效率疊層式太陽能電池薄膜特性分析與元件效率量測設施

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發佈日期 | 標題 |
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設施簡介
隨著全球人口持續增加,且大眾對於科技商品的依賴不斷提升,人類對於能源的需求有增無減,在考量能源供應的充沛性﹅穩定性以及轉換效率等重要因素後,太陽能脫穎而出,成為全球最為倚重的再生能源項目之一,本核心設施提供各學術研究機構進行科學研究、實驗等所需之材料分析技術。
服務內容(部份服務項目需使用者付費,詳見收費方式)
1.自行操作:須經管理人教學與資格認證,認證後可預約自行操作,並需負責儀器安全。
2.委託操作:由管理人操作儀器並負責儀器安全,使用者須在旁說明實驗目的。
3.教學訓練與資格認證
• 教學課程
• 練習操作
• 資格認證
服務時間:
• 自行操作:週一至週五9:00~17:00。
• 委託操作&教學&練習&考試:週一至週五,9:00-12:00 & 14:00-17:00,國定假日除外。
• 同一人一週內上班時段不得預約超過9小時。
• 使用狀況過滿時,管理人得要求使用者配合協調使用時間,以維護各使用者權益。
聯絡資訊:
陳澤彬
TEL: 06-2167812
Email:cbr871231@gate.sinica.edu.tw
服務內容(部份服務項目需使用者付費,詳見收費方式)
1.自行操作:須經管理人教學與資格認證,認證後可預約自行操作,並需負責儀器安全。
2.委託操作:由管理人操作儀器並負責儀器安全,使用者須在旁說明實驗目的。
3.教學訓練與資格認證
• 教學課程
• 練習操作
• 資格認證
服務時間:
• 自行操作:週一至週五9:00~17:00。
• 委託操作&教學&練習&考試:週一至週五,9:00-12:00 & 14:00-17:00,國定假日除外。
• 同一人一週內上班時段不得預約超過9小時。
• 使用狀況過滿時,管理人得要求使用者配合協調使用時間,以維護各使用者權益。
聯絡資訊:
陳澤彬
TEL: 06-2167812
Email:cbr871231@gate.sinica.edu.tw
使用規則
通過本實驗室之教育訓練與考核後可於預約系統自行預約使用時段並自行操作本設施。
一、使用前
• 自行操作者務必先通過資格認證。
• 預約登記:請至「全院設施場地預約系統」登記預約時段,一個月內時段可開放預約,預約後因故無法使用,須來電取消預約。
• 預約後30分鐘內未到視同取消預約,並記違規一次。
• 請自備CD-R片或雲端存取個人實驗資料。管理人將不定期無預警清空電腦硬碟所有資料夾中所有檔案。
二、使用中
• 請依順序開機(不需使用的儀器請勿打開!)。
• 使用中出現任何狀況,或發現上一使用者不當使用,須立即通報管理人。
三、使用後
• 使用結束關機前,若30分鐘內有下一預約者,請電話詢問其確切到達時間。
• 依順序關機。
• 研究實驗所使用的樣本,請自行保留或清理,若留置於工作檯面一律丟棄。
• 使用者於使用後須在使用記錄簿內確實登記使用時間及使用狀況。
四、違規罰則
• 有下列情形者計違規一次:
o 未依上述規則使用者
o 已認證者以自己名義登記給未經認證者使用
o 自行加裝電腦軟硬體或更動系統設定
• 違規使用第一次口頭警告,第二次取消使用儀器一個月,第三次永遠取消儀器使用權。
• 自行操作者若未依指示致使儀器損壞,須由該實驗室負責人負維修賠償責任,若拒絕賠償,則永久取消該實驗室之儀器使用權。
儀器設備資訊
設備名稱 | 位置 | 設施人員 |
---|---|---|
紫外光/可見光/近紅外光 分光光譜儀 | 關鍵中心大樓 四樓 R411 | 蔡宛芸 |
橢圓偏光儀 | 關鍵中心大樓 四樓 R CO-4D | 王玄同 |
探針式表面輪廓儀 | 關鍵中心大樓 四樓 R CO-4D | 王玄同 |
太陽光電元件電性系統 | 關鍵中心大樓 四樓 R CO-4A | 高筠筑 |
光電量子效率量測系統 | 關鍵中心大樓 四樓 R CO-4A | 高筠筑 |
四點探針電阻量測儀 | 關鍵中心大樓 四樓 R CO-4D | 高筠筑 |
玻璃切割機 | 關鍵中心大樓 四樓 R CO-4E | 高筠筑 |
雷射切割機 | 關鍵中心大樓 四樓 R CO-4E | 高筠筑 |
鍍金機 | 關鍵中心大樓 四樓 R CO-4C | 陳澤彬 |
掃描式電子顯微鏡 | 關鍵中心大樓 四樓 R CO-4C | 陳澤彬 |
高階光致發光螢光光譜儀 | 關鍵中心 四樓 R411 | 蔡宛芸 |
收費標準
學術界
儀器名稱 | 自行操作 | 專人操作 | 課程費 | 認證費 |
---|---|---|---|---|
紫外光/可見光/近紅外光 分光光譜儀 | 500 TWD/HR | 750 TWD/HR | 1500 TWD/HR | 1500 TWD/HR |
橢圓偏光儀 | 600 TWD/HR | 900 TWD/HR | 1500 TWD/HR | 1500 TWD/HR |
探針式表面輪廓儀 | 600 TWD/HR | 900 TWD/HR | 1500 TWD/HR | 1500 TWD/HR |
太陽光電元件電性系統 | 1200 TWD/HR | 1800 TWD/HR | 5000 TWD/HR | 1600 TWD/HR |
光電量子效率量測系統 | 1200 TWD/HR | 1800 TWD/HR | 5000 TWD/HR | 1600 TWD/HR |
四點探針電阻量測儀 | 300 TWD/HR | 450 TWD/HR | 1000 TWD/HR | 1000 TWD/HR |
玻璃切割機 | 500 TWD/HR | 750 TWD/HR | 500 TWD/HR | 500 TWD/HR |
雷射切割機 | 800 TWD/HR | 1200 TWD/HR | 1000 TWD/HR | 1500 TWD/HR |
鍍金機 | 與掃描式電子顯微鏡一起使用 | 與掃描式電子顯微鏡一起使用 | 與掃描式電子顯微鏡一起使用 | 與掃描式電子顯微鏡一起使用 |
掃描式電子顯微鏡 | 1500 TWD/HR | 3000 TWD/HR | 5500 TWD/TIMES | 1600 TWD/TIMES |
高階光致發光螢光光譜儀 | 600 TWD/HR | 900 TWD/HR | 1500 TWD/HR | 1500 TWD/HR |
非學術界
儀器名稱 | 自行操作 | 專人操作 | 課程費 | 認證費 |
---|---|---|---|---|
紫外光/可見光/近紅外光 分光光譜儀 | 1000 TWD/HR | 2250 TWD/HR | 1500 TWD/HR | 1500 TWD/HR |
橢圓偏光儀 | 1200 TWD/HR | 2700 TWD/HR | 1500 TWD/HR | 1500 TWD/HR |
探針式表面輪廓儀 | 1200 TWD/HR | 2700 TWD/HR | 1500 TWD/HR | 1500 TWD/HR |
太陽光電元件電性系統 | 2400 TWD/HR | 5400 TWD/HR | 5000 TWD/HR | 1600 TWD/HR |
光電量子效率量測系統 | 2400 TWD/HR | 5400 TWD/HR | 5000 TWD/HR | 1600 TWD/HR |
四點探針電阻量測儀 | 600 TWD/HR | 1350 TWD/HR | 1000 TWD/HR | 1000 TWD/HR |
玻璃切割機 | 1000 TWD/HR | 2250 TWD/HR | 500 TWD/HR | 500 TWD/HR |
雷射切割機 | 1600 TWD/HR | 3600 TWD/HR | 1000 TWD/HR | 1500 TWD/HR |
鍍金機 | 與掃描式電子顯微鏡一起使用 | 與掃描式電子顯微鏡一起使用 | 與掃描式電子顯微鏡一起使用 | 與掃描式電子顯微鏡一起使用 |
掃描式電子顯微鏡 | 3000 TWD/HR | 9000 TWD/HR | 5500 TWD/TIMES | 1600 TWD/TIMES |
高階光致發光螢光光譜儀 | 1200 TWD/HR | 2700 TWD/HR | 1500 TWD/HR | 1500 TWD/HR |